بيش از يك قرن از اختراع تداخل سنج هاي نوري و استفاده از آنها در كارهاي پژوهشي مي گذرد. در تداخل سنجي به شكل معمول از اندازه گيري محل فريزهاي تداخلي براي اندازه گيري كميتهاي مرتبط استفاده مي شود كه محدود به ميزان دقت در تعيين مكان اين فريزها است. در روش اختراعي ارائه شده توسط اين گروه اساسا مبناي اندازه گيري محل فريزها نبوده بلكه نماياني فريزهاي ناشي از پراش است كه طي كارهاي قبلي نشان داده شده حساسيت آن به تغييرات فاز بسيار بيشتر از جابجايي فريزها مي باشد. از اينرو از اين روش مي توان براي آشكارسازي تغييرات فاز به اندازه چند صدم راديان استفاده كرد كه بنا به پديده مورد مطالعه9 ممكن است ناشي از تغييرات بسيار كوچك ضخامت طول ضريب شكست دما قطبش و يا هر پديده ديگري كه منجر به تغيير فاز گردد باشد در طرح فعلي هدف استفاده از اين روش براي اندازه گيري جابجايي هاي نانومتري است. حركت جسم متحرك با استفاده از يك سيستم مكانيكي دقيق به يك آيينه متحرك منتقل مي شود. اين آيينه نسبت به يك آيينه ثابت ديگر و در فاصله بسيار كمي از آن قرار دارد. با تاباندن نور يك ليزر به مرز دو آيينه فريزهاي نقش پراش فرنل حاصله در فاصله مناسب روي يك آشكارساز دو بعدي ثبت مي شود. با تغيير مكان آيينه متحرك نماياني فريزهاي پراش تغيير مي كند كه با ثبت و تحليل آنها مي توان مقدار جابجايي انجام شده را با دقت چند نانومتر به دست آورد. اين روش با موفقيت به طور آزمايشي در آزمايشگاه پژوهشي اپتيك دانشكده فيزيك دانشگاه تهران پياده شده و نيازمند حمايت مالي براي تبديل شدن به يك دستگاه براي اندازه گيري جابجايي هاي نانومتري است.